Análise de Resolução de Dados de EMAP em Estruturas Bidimensionais

C. R. T. Régis, L. Rijo

Abstract


Neste trabalho, fizemos uma análise do método EMAP (ElectroMagnetic Array Profiling), usando dados gerados por um programa que desenvolvemos para simular perfis de EMAP sujeitos a forte influência de efeitos estáticos ('static shift"). A elaboração do programa para filtragem dos efeitos estáticos foi baseada na teoria do método EMAP, que trabalha com um processo iterativo para determinação da abertura de janela, e que tem um bom desempenho, executando em um tempo muito curto o que é uma característica do método. Para analisar o poder de resolução do método, usamos modelos bidimensionais. O poder de resolução do método não é muito melhorado em relação ao método magnetotelúrico tradicional e o seu maior benefício é na remoção de efeitos estáticos, em que o método é muito eficiente, em contraste com o método magnetotelúrico.

RESOLUTION OF EMAP DATA IN BI-DIMENSIONAL STRUCTURES 

We perform an analysis of the EMAP (ElectroMagnetic Array Profiling) method using data generated by a finite element code that simulates an EMAP sounding with very strong static shift. To perform the filtering of the data we constructed a code, based on the published theory of the EMAP method, that works with the iterative process for finding the adequate window width in a very fast way, which is a characteristic of the EMAP method, with good results. Using two-dimensional models, we study the resolution of the method, which we found not to be very high, making it to be more adequate for the study of large structures. The greatest applicability of the method is in removing static distortions, in which it is very effective, in contrast with the Magnetotelluric method.



Keywords


método magnetotelúrico; EMAP; modelamento numérico



DOI: http://dx.doi.org/10.22564/rbgf.v14i1.1206









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